Self Test 是真正的low level format 具有良好維修效果.
邊做磁訊號效果測試 邊做servo pattern 寫入
是工廠標準生產流程也是RMA必跑測試
當用戶硬碟損壞時,送入原廠廠做RMA流程,在處理中心分別會做下面檢測
1.如果磁頭沒有任何損壞,小量壞軌,對硬碟做寫入,SMART會將壞軌存放在Glist (增長缺陷表) ,工廠指令將Glist中缺陷轉到Plist去.
2.如果磁頭沒有任何損壞,中量壞軌,需要砍Zone.並且做下面自校準流程.類似於出廠的磁訊號定位.
3.非主頭磁頭部分損壞,但不干擾原硬碟運作.在系統屏蔽此磁頭後做自校準流程
4.磁頭全部損壞 此硬碟走到盤體報廢路線…
自校準需要
1.能發出工廠指令執行軟或硬體
2.碟片上或外部有自校準韌體程式碼
3.自校準流程有外漏
以下為PC3000 UDMA 執行老款Seagate自校准:
必須要從其他同系列 +同主控晶片組 硬碟先備份LDR (外部硬碟韌體os)
1.進入安全模式 如果是用 非UDMA 內建可切換電源 需要自己手動硬碟斷電 通電
2.切換Bandrate 速度為921000 最高
Self Writing 啟動方式
1.選這加載LDR :選Starting LDR
以安全模式加載 LDR 請參考圖
如果是用 非UDMA 內建可切換電源 需要自己手動硬碟斷電 通電1~2次
如果 CERT table 中有99要改掉(99=stop) CERT 可以另存 module 改掉 後 , 再額外指定
指令E4E 檢查已做好的self Test 流程跟時間 (Exam 4E)
指令T4E 檢驗預定做的Self Test流程
1.終端下輸入ctrl-z
把速度改回9600 bps
再輸入 #,,22 (改序號 ) 按下Enter
前三碼跟磁頭有關 不可亂輸入 如果磁頭沒變化就一樣 (9QF12345)
再任意輸入PW 五位數(12345 ok)
2.N2,,22 (2代表從第2步開始做 ,,22 是確定執行) , (所以 N94,,22 是 從 94 開始)
3. 再按下 ctrl -t執行
. 可以看到目前流程
: 可看age
硬碟AGE 說明 代表目前硬碟狀況
硬盤安裝和伺服校正測試
TEST 01 – 製造臨時日誌
TEST 02 – 格式化和測試錯誤日誌
磁頭和電路校正測試
TEST 03 – 伺服校正信息
TEST 04 – 斜波加載/卸載測試
TEST 05 – 傳感器滯後測試
TEST 06 – 磁頭切換測試
TEST 07 – RUNOUT補償測試
TEST 08 – 當檢查伺服錯誤時盤上寫入2T類型
TEST 09 – 磁頭低飛顯示
TEST 0A – 磁頭穩定性測試
TEST 0C – 讀取伺服缺陷測試位置
TEST 0D – 重學RRO ZAP測試
TEST 0E – 尋找跳過柱面測試（還未實現過）
TEST 0F – 當前寫測試 磁頭和電路校正測試
TEST 10 – 1E, 2A – 2E 適配區域#（最後區域）通過 0 -所有磁頭
TEST 1F – 顯示適配性，VCO，和DIODE溫度設置
TEST 2F – 顯示FIR適應性設置 伺服性能驗證測試
TEST 20, TEST 60 – 伺服訪問次數
TEST 21, TEST 25 – RRO/NRRO 測試
TEST 23 – 開始/停止 （10次）
TEST 24 – 開始/停止 （2000次）
TEST 29 – 伺服缺陷掃瞄
缺陷查找和再分配測試
TEST 30 – 驗證所有磁盤組讀取，AT級
TEST 31 – 楔形缺陷掃瞄. 磁頭 0-1無讀取級，50寫級
TEST 32 – 楔形缺陷掃瞄. 磁頭 2-3無讀取級，50寫級
TEST 36 – 在對磁頭0-1楔形掃瞄中查找出來的缺陷進行定位
TEST 37 – 在對磁頭2-3楔形掃瞄中查找出來的缺陷進行定位
TEST 3A – 使用1重複讀取所有磁頭拋光和缺陷測試，重複50次
TEST 3B – 建立缺陷表；填充受損磁頭0，1
TEST 3C – 建立缺陷表；填充受損磁頭2，3
TEST 3D – 建立缺陷表；填充受損磁頭4，5
TEST 3E – 建立缺陷表；填充受損磁頭6，7
TEST 3F – 回送測試，寫通過測試
錯誤率性能測試
TEST 40- 開始/停止（10次）
TEST 41- 磁道侵入
TEST 42- SPIN STAND模擬器- 區域較小錯誤碧綠
TEST 43- RAM 測試
TEST 46- 數據編譯比率
TEST 47- 冷寫/磁道擦除顯示
TEST 48- 錯誤率，寫通過
TEST 49- 寫/讀/比較（零式樣）
TEST 4A- 補償係數檢測
TEST 4B- 讀
TEST 4B -所有磁道冷寫顯示
TEST 4C- 磁頭飛行高度測量
TEST 4D- 收集自動FA數據
TEST 4E- 檢查積累健康和創建自檢概要
TEST 4F- 失敗磁盤測試
TEST 50- 通過磁盤測試
AGE 50正常就為正常 再寫入APP to HDD 就可
上面流程:http://bbs.intohard.com/thread-111709-1-1.html
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